分类: 其他 提交时间: 2025-05-08
摘要: 在工业无损检测领域,中子外部计算机断层成像(Computed Tomography, CT)的精确成像能够有效克服传统CT因探测器视野受限或内部结构复杂而导致的成像盲区与伪影问题,对大尺寸样品裂纹、腐蚀等缺陷的发现具有重要意义。本文首先从数学物理基础出发,阐释中子外部CT中因投影截断所引发的伪影生成机制;其次,回顾了从传统解析反演到现代约束优化方法的技术演进;进一步指出当前方法在复杂物理效应建模不足、算法参数优化依赖人工经验及实时计算资源消耗等方面存在的技术瓶颈;最后,对中子外部CT成像技术的未来发展方向进行了展望,探讨了可能的技术创新方向。